磁性材料镀层测厚仪是国内的分析仪器厂家，公司主营产品X荧光检测仪具有快速、精确、无损的特点。X荧光分析仪可以应用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的领域，如：电子电器（RoHS检测）、珠宝首饰（贵金属及镀层检测）、玩具安全（EN71-3）、建材（水泥、玻璃、陶瓷）、冶金（钢铁、有色金属）、石油（微量元素S、Pb等）、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等等。

金属镀层测厚仪器为什么选择天瑞thick800a 快速：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。 方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口上的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于135eV，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。

THICK680电镀膜厚检测仪通过X射线照射，不同元素的发射出不同能量及强度的X光，通过接收器及软件分析来精确分析金属（铝合金、铜合金）电镀层（镀锌、镀镍、镀金、镀银、镀锡等）的厚度，一次分析五层，Z薄可分析0.005μm。