国内X荧光测厚仪，当然是天瑞仪器，天瑞仪器是国内早研发生产测厚仪厂家，分析仪器上市企业，生产的测厚仪在行业内应用得到了客户的广泛应用和认可，尤其是thick800a属于镀层系列的“明星"产品，价格相比国外更有优势，产品性能可以和国外相媲美，受到了客户的亲睐。
X荧光测厚仪
产品介绍
国内X荧光测厚仪，当然是天瑞仪器，天瑞仪器是国内早研发生产X荧光测厚仪厂家，分析仪器上市企业，生产的X荧光测厚仪在行业内应用得到了客户的广泛应用和认可，尤其是thick800a属于镀层系列的“明星”产品，价格相比国外更有优势，产品性能可以和国外相媲美，受到了客户的亲睐。
X荧光测厚仪技术指标
型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
X荧光测厚仪标准配置
开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
