X荧光金属膜厚测厚仪Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手，主要由于镀金、镀银、镀镍、镀锌、镀铜等金属镀层。
标准配置
开放式样品腔。 精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。双激光定位装置。 铅玻璃屏蔽罩。 Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。 高低压电源。 X光管。 高度传感器保护传感器 计算机及喷墨打印机
X荧光金属膜厚测厚仪性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求 φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm 采用高度定位激光，可自动定位测试高度 定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点 高分辨率探头使分析结果更加精准 良好的射线屏蔽作用测试口高度敏感性传感器保护
X荧光金属膜厚测厚仪技术指标
型号：Thick800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。 一次可同时分析多24个元素，五层镀层。 分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005μm。
分析含量一般为2ppm到99.9% 。 镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）任意多个可选择的分析和识别模型。 相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序 多次测量重复性可达0.1% 长期工作稳定性可达0.1% 度适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V,
建议配置交流净化稳压电源。 外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
应用领域
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。
X荧光金属膜厚测厚仪广泛应用于高压开关、表面处理、PCB线路板、电子连接器、五金卫浴等企业中。
