天瑞镀层厚度荧光检测仪是天瑞仪器销量的镀层测厚仪；仪器采用上照式结构，测试，软件界面简洁，测试样品用时40S，售后服务可靠及时。
软件优势
仪器采用天瑞软件研发团队研发的能量色散X荧光FpThick软件，良好的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作。谱图区域采用动态模式，测试时元素观察更直观。
软件具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
天瑞镀层厚度荧光检测仪参数规格
1 分析元素范围：S-U2 同时可分析多达5层以上镀层3 分析厚度检出限达0.005μm4 多次测量重复性可达0.01μm5 定位精度：0.1mm6 测量时间：30s-300s7 计数率：1300-8000cps8 Z轴升降范围：0-140mm9 X/Y平台可移动行程：50mm(W)×50mm(D)
天瑞镀层厚度荧光检测仪性能特点
1.满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求2.φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求，可以对同一镀件不同部位测试厚度3.高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm4.采用高度定位激光，可自动定位测试高度5.定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐6.鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点7.高分辨率探头使分析结果更加精准8.良好的射线屏蔽作用9.测试口高度敏感性传感器保护
测试实例
镀镍器件是比较常见的电镀器件，其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的一件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。
以下使用Thick800A仪器对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度，七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行定位测试，其测试位置如图。 结论
实验表明，使用Thick800A 仪器对镀件膜厚测试，结果准确度高，速度快（几十秒），其测试效果*可以和显微镜测试法媲美。
镀层厚度测试方法一般有以下几种方法：1.光学显微镜法。适用标准为：GB/T6462-20052.X-ray法（X射线法）。适用标准为：GB/T16921-2005
3.库仑法，此法一般为仲裁方法。适用标准为：GB/T4955-2005
Thick800A镀层厚度荧光检测仪是天瑞仪器销量的镀层测厚仪；仪器采用上照式结构，测试，软件界面简洁，测试样品用时40S，售后服务可靠及时。
仪器配置
1 硬件：主机壹台，含下列主要部件： ①X光管 ②半导体探测器③放大电路 ④高精度样品移动平台⑤高清晰摄像头 ⑥高压系统⑦上照、开放式样品腔 ⑧双激光定位⑨玻璃屏蔽罩2 软件：天瑞X射线rel="nofollow" 荧光光谱仪FpThick分析软件V1.03 计算机、打印机各一台计算机（品牌，P4，液晶显示屏）、打印机（佳能，彩色喷墨打印机）4 资料：使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。5 标准附件准直孔：0.1X1.0mm（已内置于仪器中）
