天瑞国产镀层分析仪采用X荧光分析技术,可以测定各种金属镀层的厚度,包括单层、双层、多层及合金镀层等,可以进行电镀液的成分浓度测定。它能检测出常见金属镀层(镀锌、镀镍、镀锌、镀锡、...
产品介绍
天瑞国产镀层分析仪采用X荧光分析技术,可以测定各种金属镀层的厚度,包括单层、双层、多层及合金镀层等,可以进行电镀液的成分浓度测定。它能检测出常见金属镀层(镀锌、镀镍、镀锌、镀锡、镀铜、镀钯、镀銠等)厚度,无需样品预处理;分析时间短,仅为数十秒,即可分析出各金属镀层的厚度;分析测量动态范围宽,可从0.005μm到50μm。
我公司集中了国内的X荧光分析﹑电子技术等行业技术研究开发专家及生产技术人员,依靠良好科学研究,总结多年的现场应用实践经验,结合市场需求,开发生产出镀层分析仪具有快速、准确、简便、实用等优点,广泛用于镀层厚度的测量、电镀液浓度的测量。
技术指标
分析元素范围:从硫(S)到铀(U)
同时检测元素:多24个元素,多达五层镀层
检出限:可达2ppm,薄可测试0.005μm
分析含量:一般为2ppm到99.9%
镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)重复性:可达0.1%
稳定性:可达0.1%
SDD探测器:分辨率低至135eV
采用良好的微孔准直技术,小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm
样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与
Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度 :小于0.1um
操作环境湿度:≤90%
操作环境温度 15℃~30℃
性能优势
精密的三维移动平台
的样品观测系统
良好的图像识别
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器,自动切换
双重保护措施,实现无缝防撞
采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度
全自动智能控制方式,一键式操作!
开机自动自检、复位;
开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,方便放样;
关盖自动拍照作为全景定位参考图,并推进样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦;
直接点击全景或局部景图像选取测试点
应用领域
镀层分析仪广泛应用于塑料制品工业镀层、高压开关、电子材料镀层(接插件、半导体、线路板、五金端子、电子连接器、PCB印刷线路板、电容器等)、钢铁材料镀层(铁、铸铁、不锈钢、低合金、表面处理钢板等)、有色金属材料镀层(铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等)、其它各种镀层厚度的测量及成分分析,天瑞仪器是国内镀层分析仪上市企业。