X荧光光谱仪是一款全新开发研制的集RoHS指令/卤素指令/八大重金属指令一体的光谱仪。集准确、快速、无损、直观及环保五大特点，采用分析仪器行业先进的极速探测器技术（SDD）可将测试时间降低到1秒。可实现图像联动控制，多点连续测试。新增加电动开发的样品腔使操作更加方便，全新设计自动样品平台让准确检测得到保证。

　　该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，提高了效率；采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比；采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性；利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度；采用相似自动分类技术使分类更准确，有效地克服基效应对测量带来的影响；X荧光光谱仪采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。

　　X荧光光谱仪的优点：

　　1.分析速度快。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。

　　2.X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定。

　　3.非破坏分析。在X荧光光谱仪测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。

　　4.X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。

　　5.分析精密度高。

　　6.制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。X荧光光谱仪适用于工厂来料及制程控制中的有害物质检测，铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cr)、铬(Cd)、溴(Br)、氯(Cl)控制的利器。无损检测，可对电子电气设备，玩具指令中的有害物质进行定性定量分析。