X荧光光谱仪分析方法是一个相对分析方法，任何制样过程和步骤必须有非常好的重复操作可能性，所以用于制作标准曲线的标准样品和分析样品必须经过同样的制样处理过程。

　　X 射线荧光实际上又是一个表面分析方法，激发只发生在试样的浅表面，必须注意分析面相对于整个样品是否有代表性。此外，样品的平均粒度和粒度分布是否有变化，样品中是否存在不均匀的多孔状态等。样品制备过程由于经过多步骤操作，还必须防止样品的损失和沾污。

　　X荧光光谱仪的优势特点都有哪些呢？

　　1、设计理念先进：采用能量色散光谱分析方法，选用50W功率的X射线光管直接激发样品产生X射线荧光，德国进口高精度SDD探测器和多道分析器接收X荧光信号，获得样品中各元素的计数强度并绘出光谱图，根据各元素特征能量及其强度进行定性和定量分析。并采用样品旋转技术增加样品测试面积，提高结果重复性和准确度。*摆脱了以往化学方法进行元素分析的繁琐操作过程。

　　2、应用范围广泛：可分析粉末、颗粒、溶液、溶胶、固体等多种类型的样品中元素含量，如测定煤中磷，煤灰成分分析（氧化钠、氧化镁、三氧化二铝、二氧化硅、五氧化二磷、三氧化硫、氧化钾、氧化钙、三氧化二铁等）。

　　3、分析元素范围宽：可分析元素范围从钠（Na）～铀（U），元素含量从ppm～100%。

　　4、安全性高：符合相关规定要求，产品质量好，安全性能高，并获得国家环境生态部的豁免许可。

　　5、使用成本低：X荧光光谱仪采用真空测量模式不需消耗任何气体和化学试剂，用户后期使用成本极低。