镀层测厚仪采用X射线荧光的工作原理是，X 射线管产生初级射线照射在受检物质时，会激发物质放射X－射线萤光辐射，特定的元素有特定的辐射信号，接收器便会记录这些能量光谱。不需要先对样品进行处理便能测量，样品可直接放入测量室进行测量。镀层测厚仪由于可测量的元素范围从铝至铀，X射线的应用范围从工业应用伸展到科学应用。镀层测厚仪可应用于治金学、地质学、鉴证学或自然科学等，在工业方面，广泛用于五金电镀、电子半导体、PCB线路、首饰珠宝、卫浴、汽配的成份分析和镀层测量方面。

　　镀层测厚仪的测量原理：

　　镀层测厚仪采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。镀层测厚仪也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。

　　用镀层测厚仪时，测量准确需具备什么条件?具体如下：

　　1.基体金属特性

　　对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。

　　对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。

　　2.基体金属厚度

　　检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，可采用方法进行校准。

　　3.表面清洁度。镀层测厚仪测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。

　　4.边缘效应。不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。

　　5.曲率。不应在试件的弯曲表面上测量。

　　6.读数次数。通常由于镀层测厚仪的每次读数并不*相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。