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x射线荧光电镀层测厚仪

简要描述:

x射线荧光电镀层测厚仪是专业测试金属电镀层厚度的检测仪器,主要测试镀金、镀银、镀铑、镀钯、镀镍、镀铜、镀锌、镀锡等,是一款对产品无损伤设备,测试时间只需要5-40S(跟进产品不同略有差异)

样品腔尺寸:306mm×260mm

计数率:0-10000cps

长效稳定X铜光管

脉冲处理器,数据处理快速准确

手动开关样品腔,操作安全方便

x射线荧光电镀层测厚仪三重安全保护模式

整体钢架结构、外型高贵时尚

FP软件,无标准样品时亦可测量

半导体硅片电制冷系统,摒弃液氮制冷

采用天瑞仪器信噪比增强器(SNE)

内置高清晰摄像头,方便用户随时观测样品
 

应用领域

 

电阻电容、螺栓、螺母、弹簧类紧固件、PCB、FPC、LED、SMD、连接器、高压开关、天线、半导体、五金卫浴、汽车零部件、功能性电镀件、珠宝、首饰、装饰品、合金等

产品简介



x射线荧光电镀层测厚仪是专业测试金属电镀层厚度的检测仪器,主要测试镀金、镀银、镀铑、镀钯、镀镍、镀铜、镀锌、镀锡等,是一款对产品无损伤设备,测试时间只需要5-40S(跟进产品不同略有差异)


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x射线荧光电镀层测厚仪是天瑞仪器自主研发生产的一款高性价比产品,公司在省会城市基本设有售后服务网点,满足各个省份企业的售后服务及时快速,质量保证期限内相关费用全免,软件*升级。

参数规格
 

 

(1)   X光管                        (2) Si-PIN电制                                    冷半导体探测器(3) 放大电路                   (4)高清晰摄像头

(5) 高压系统                   (6) 单样品腔

 

订购说明

 

环境温度要求:15℃-30℃

环境相对湿度:<70%

工作电源:交流220±5V

周围不能有强电磁干扰。

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