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荧光测厚仪

简要描述:

荧光测厚仪是一款利用X射线原理检测金属镀层(镀金、镀镍、镀铬、镀锌、镀锡、镀铑、镀钯、镀铜、镀银……)厚度的仪器,thick800a是目前天瑞仪器镀层仪器销量好的一款,采用上照式方式,满足不同规格产品的精准测试,作为一家上市企业,生产厂家在售后服务和价格方面占有的优势,是客户的选择对象。

产品介绍

 

荧光测厚仪是一款利用X射线原理检测金属镀层(镀金、镀镍、镀铬、镀锌、镀锡、镀铑、镀钯、镀铜、镀银……)厚度的仪器,thick800a是目前天瑞仪器镀层仪器销量好的一款,采用上照式方式,满足不同规格产品的精准测试,作为一家上市企业,生产厂家在售后服务和价格方面占有的优势,是客户的选择对象。

 

性能特点

 

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护

 

技术指标

 

型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg

 

标准配置

 

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

 

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应用领域

 

黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。

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