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PCB镀层厚度荧光光谱仪

简要描述:

SUPER XRF 2400PCB镀层厚度荧光光谱仪是一款功能强大的X荧光光谱仪。它综合了仪器的常规测试(普通模式)和*的光路系统测试 (超锐模式),普通模式能完成全元素,贵金属,RoHS,镀层等常规测试,超锐模式能对客户比较关心的低含量元素进行更精确的测试。主要是使用天瑞仪器*超锐光路系统,降低仪器的背景噪音,提高仪器的检出能力,从而提高仪器的整体检测性能。

SUPER XRF 2400PCB镀层厚度荧光光谱仪——超级X荧光光谱仪

 

仪器介绍

 

SUPER XRF 2400PCB镀层厚度荧光光谱仪是一款功能强大的X荧光光谱仪。它综合了仪器的常规测试(普通模式)和*的光路系统测试 (超锐模式),普通模式能完成全元素,贵金属,RoHS,镀层等常规测试,超锐模式能对客户比较关心的低含量元素进行更精确的测试。主要是使用天瑞仪器*超锐光路系统,降低仪器的背景噪音,提高仪器的检出能力,从而提高仪器的整体检测性能。

 

 

技术指标

元素分析范围从钠(Na)到铀(U) 
可进行测试模式之间的转换,提高测试的效率 
可对10个样品进行自动切换测试 
一次可同时分析zui多几十种元素 
分析检出限zui高可达0.1ppm
分析含量一般为0.1ppm到99.9% 
任意多个可选择的分析和识别模型 
相互独立的基体效应校正模型 
多变量非线性回收程序 
长期工作稳定性为0.1% 
温度适应范围为15℃至30℃ 
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源

 

标准配置

超锐X光源和样品激发机构 
上盖电动开关的大容量样品腔 
可自动切换的准直器,滤光片 
高清晰CCD摄像头 
SDD探测器 
数字多道采集处理系统 
高低压电源 
进口400W端窗光管油冷散热系统,具有自动控温功能
样品自动切换系统 
全自动真空系统 
专业X荧光分析软件 
计算机及喷墨打印机 
外观尺寸: 752(W)x759(L)x 988(H)
样品腔尺寸:¢376×50 mm 
重量:小于250Kg

 

性能特点

特殊光路系统 
采用特殊的光路系统,可满足不同基体中痕量元素的测量,提高信噪比,降低检出限。

400W大功率X光源 
400W大功率光源使难以激发的痕量元素获得更高的计数率,比普通EDXRF仪器的元素检出限降低一个数量级,更加适合痕量元素的检测。

数字多道技术 
采用数字多道技术,仪器可探测的计数率可高至100kcps,提高了仪器的测量精度,缩短了测量时间。

油冷散热系统 
油冷散热系统,保证了大功率X光源的散热,使仪器的运行更加稳定。

光闸系统 
光闸系统,保证X光源的稳定性,同时提升X光管使用寿命。

抽真空系统 
抽真空系统,可以满足轻元素的测量。

自动进样系统 
自动进样系统,可以一次连续检测十二个样品,大大提高了测试人员的工作效率。

 

SUPER XRF 2400侧试模式

普通模式:为普通仪器的常规测试。

超锐模式:使用天瑞仪器*超锐光路系统,SUPER XRF 2400使用的原理主要能实现两大功能,降低背景,提高检出能力。

 

一、如图一所示,下图为测土壤中的V(绿)和Cr(红)。实谱为超锐模式,测得的谱图,红色虚谱为普通模式谱图。由图可看出,对于关注元素。超锐模式明显出峰,而普通模式几乎没有出峰。

 

二、下图二所示,为测土壤中的Zr,实谱为超锐模式所测谱图,红色虚谱为普通模式所测谱图。超锐模式所测得的Zr有效峰背比强度为210.05。普通模式所测得的Zr在相同测试条件下有效峰背比强度为155.72。由图可以看出超锐模式比普通模式出峰要好,而且超锐模式降低了背景。

 

从以上谱图一可以看出,我们在进行常规测试时。由于土壤中的V、Cr含量低。是无法检测出其含量的。谱图二中,虽然Zr能检测出峰,但是其背景也比较高,对测试的结构影响比较大。而在使用天瑞仪器*超锐光路系统,能降低背景,检测出低含量的元素,提高仪器的检出能力。从而提高仪器的整体测试效果。

 

 

 

 

 

 

应用领域

 

SUPER XRF 2400不仅可满足中心实验室和分包实验室的分析需要,而且适用于环境监测、化工、采矿、鉴定、食品、电子、水泥和冶金行业

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