仪器采用天瑞软件研发团队研发的能量色散X荧光FpThick软件，良好的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作。谱图区域采用动态模式，测试时元素观察更直观。软件具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。金属电镀层厚度分析仪 Thick800a

X光测厚仪的工作原理是利用x射线对金属表面进行激发，检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。

型号：Thick 800A 元素分析范围从硫（S）到铀（U）。 同时可以分析30种以上元素，五层镀层。 分析含量一般为ppm到99.9% 。 镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同） 任意多个可选择的分析和识别模型。 相互独立的基体效应校正模型。 多变量非线性回收程序 度适应范围为15℃至30℃。 电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。 外观尺寸： 576（W）×495（D

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测. 金属镀层的厚度测量 电镀液和镀层含量的测定。 主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

天瑞仪器是国内的分析仪器厂家，公司主营产品X荧光检测仪具有快速、精确、无损的特点。X荧光分析仪可以应用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的领域，如：电子电器（RoHS检测）、珠宝首饰（贵金属及镀层检测）、玩具安全（EN71-3）、建材（水泥、玻璃、陶瓷）、冶金（钢铁、有色金属）、石油（微量元素S、Pb等）、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等等。

X射线荧光什么是X射线?X射线存在于电磁波谱中的一个特定区域,它由原子内部电子跃迁产生,其波长范围在0.1-100Å;能量大于100电子伏特.什么是X射线荧光?X射线荧光 是一个原子或分子吸收了特定能量的光子后释放出较低能量的光子的过程

1. X 光管2. 高、低压电源3. MCA多道分析器: 4. 高精密摄像头5. 移动平台（自动）6. 超大样品腔7. 准直器自动切换8. 滤光片自动切换9. 准直器和滤光片的自由组合10. 标准样品 EDX1800B镀银层测厚仪厂家采用下照式结构，仪器操作简单，测试精确，售后服务可靠及时。

公司被授予 “国家火炬计划重点优良企业”，“江苏省优良企业”，“江苏省软件企业”，“江苏省科技创新示范企业”，“江苏省规划布局内重点软件企业”，“江苏省光谱分析仪器工程技术研究中心”等荣誉称号。产品具有*的技术水平，X荧光光谱仪系列（ROHS光谱仪）产品被认定为“国家重点新产品”和“江苏省产品”。产品品种齐全，为环境保护与安全、工业测试与分析及其它领域提供专业解决方案。

金属镀层测厚仪器为什么选择天瑞thick800a 快速：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。 方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口上的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于135eV，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。

无损电镀层厚度检测仪工作原理是利用x射线对金属表面进行激发，检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。

开放式样品腔。 精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。 双激光定位装置。 铅玻璃屏蔽罩。 Si-Pin探测器。 信号检测电子电路。 高低压电源。 X光管。 高度传感器 保护传感器 计算机及喷墨打印机 X射线金属层测厚仪 Thick800a

镀银层测厚仪哪家好是客户在选购镀层设备过程中较为关注的一块，到底哪家好呢，国外还是国内的，这个不能一概而论，国外的品牌也要分为哪个国家，不是所有的国外品牌都是好的，所以客户在购买过程中一定要多多深入了解，而不是一味的追求进口。